厂家参考资料AOSI-4000F 平面元件缺陷检测设备
知常光电 / 光学检测

AOSI-4000F 平面元件缺陷检测设备

用于平面光学元件、窗口片及滤光片的表面缺陷检测。

光学检测
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产品资料

参考技术指标。

技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。

参考技术指标
典型样品直径Ø5–30 mm
最大检测效率3000 pcs/h(Ø10 mm,40/20)

参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗

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