用于不同尺寸、特别是大口径光学元件的高精度透射率与反射率测量。
请提供应用及目标技术指标,以便选型。
技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。
参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
用于各类光学元件、光学晶体、光学陶瓷的全自动表面质量检测。
用于平面光学元件、窗口片及滤光片的表面缺陷检测。
用于立方棱镜、菱形棱镜等成品与半成品的外观缺陷检测。
请提供应用、基片及目标技术指标。