厂家参考资料产品类别示意图
知常光电 / 光学检测

LDT-2000-C 光学元件激光损伤检测及预处理设备

用于光学元件激光损伤阈值测试、体材料测试及镀膜工艺优化。

光学检测
索取资料 ↗
配置与供货状态以询价确认为准

请提供应用及目标技术指标,以便选型。

产品资料

参考技术指标。

技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。

参考技术指标
样品尺寸≤150 × 150 mm 或按需定制
激光脉宽~10 ns
测试方式1 on 1 / R on 1 / S on 1

参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗

告诉我们您的工艺需求。

请提供应用、基片及目标技术指标。

开始询价