厂家参考资料
知常光电 / 光学检测
PTM-2000-LA 大口径元件吸收缺陷检测仪
基于光热扫描显微成像，检测大口径光学元件表面及亚表面的吸收缺陷。
配置与供货状态以询价确认为准
请提供应用及目标技术指标，以便选型。
产品资料
参考技术指标。
技术指标为参考信息，实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料；供货范围与配置以询价确认为准。
| 检测灵敏度 | ≤0.01 ppm |
|---|---|
| 样品尺寸 | ≤500 × 500 mm 或按需定制 |
参考资料：2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
