厂家参考资料
知常光电 / 光学检测
SSDI-2000 亚表面缺陷检测仪
集成多种成像模式，检测光学元件表面与亚表面缺陷，可沿深度方向分层分析。
配置与供货状态以询价确认为准
请提供应用及目标技术指标，以便选型。
产品资料
参考技术指标。
技术指标为参考信息，实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料；供货范围与配置以询价确认为准。
| 检测灵敏度 | ≤200 nm |
|---|---|
| 横向 / 纵向分辨率 | ≤300 nm / ≤1 µm |
| 最大样品尺寸 | 100 × 100 mm 或按需定制 |
参考资料：2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
