厂家参考资料
AMIES / AMIES 设备
AMIES 前道自动光学检测设备
用于集成电路前道工艺的宏观缺陷检测，可选配正面、背面与边缘检测。
配置与供货状态以询价确认为准
请提供应用及目标技术指标，以便选型。
产品资料
参考技术指标。
技术指标为参考信息，实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料；供货范围与配置以询价确认为准。
| 可选配置 | 正面、背面及边缘检测；ADC |
|---|
最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
用于集成电路前道工艺的宏观缺陷检测，可选配正面、背面与边缘检测。
请提供应用及目标技术指标，以便选型。
技术指标为参考信息，实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料；供货范围与配置以询价确认为准。
| 可选配置 | 正面、背面及边缘检测；ADC |
|---|
最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
请提供应用、基片及目标技术指标。
