厂家参考资料AMMI-2000 图形晶圆缺陷检测设备
知常光电 / 晶圆检测

AMMI-2000 图形晶圆缺陷检测设备

采用明场、暗场及微分干涉成像,自动检测图形晶圆缺陷。

200 / 300 mm5–0.25 µm
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参考技术指标。

技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。

参考技术指标
晶圆尺寸200 / 300 mm
检测方式明场 / 暗场 / 微分干涉
分辨率5–0.25 µm
自动化2 个 Load Port

参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗

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