采用明场、暗场及微分干涉成像,自动检测图形晶圆缺陷。
请提供应用及目标技术指标,以便选型。
技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。
参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗
多通道光学检测系统,用于 SiC 抛光衬底片及同质外延片的缺陷检测。
融合多通道检测信息,定位并提取铌酸锂、钽酸锂基片缺陷。
用于玻璃及透明、半透明晶圆衬底的光学缺陷检测。
请提供应用、基片及目标技术指标。