厂家参考资料NOVA-2000-G 玻璃晶圆缺陷检测设备
知常光电 / 晶圆检测

NOVA-2000-G 玻璃晶圆缺陷检测设备

用于玻璃及透明、半透明晶圆衬底的光学缺陷检测。

4 / 6 / 8 / 12 英寸5–0.25 µm
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产品资料

参考技术指标。

技术指标为参考信息,实际配置、性能与交期以报价确认为准。 厂家参考资料;供货范围与配置以询价确认为准。

参考技术指标
晶圆尺寸4 / 6 / 8 / 12 英寸
基片类型玻璃、光学级 SiC 等透明或半透明晶圆衬底
分辨率5–0.25 µm
检测效率≥20 WPH(8 英寸);≥10 WPH(12 英寸),分辨率均为 0.5 µm
自动化2 个 Load Port

参考资料:2026-03。最终技术指标以报价确认为准。 咨询技术问题 ↗

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